ICT测试仪测试方式7

    ICT测试仪测试方式7

     7）、场效感应管（测试类别：F）

这方法是测试场效感应管的V_DS ，通过调节栅极电压V_G (Drive)及负载R_c(Range)。无论是N-Channel
或P-Channel，漏极（D）针号设在CH+，源极（S）针号设在CH-，栅极（G）针号设在G1。
V_G 调节范围为：-2000mV~5000mV（N-FET及P-FET）。Rc调节范围为：1（200欧）、2（100欧）、
3（67欧）。
a).N-FET
                               

    当V_G为正值且越大时，I_DS也越大， D极与S极导通越好，V_DS相对越小， 这是N-FET的特性。相反地，当V_G为负值
    且越小时， I_DS也越小，D 极与 S极阻抗越大，V_DS越接近5V。

    若只测试组件是否存在，只将V_G调至5V 即可，若还想测试组件是否有短路， 可加多一测试步，将V_G 调至0即可。
      b).P-FET 

                                           

   当V_G为负值且越小时，I_DS也越大，D极与S极导通越好，V_DS相对越小，这是P-FET的特性。相反地，当V_G为正值
   且越大时,I_DS也越小，D极与S 极阻 抗越大，V_DS越接近5V。
   若只测试组件是否存在，只将V_G调至-2V即可，若还想测试组件是否有短路，可加多一测试步，将V_G调至0V即可。