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    ICT测试仪测试方式7

        ICT测试仪测试方式7

         7)、场效感应管(测试类别:F

    这方法是测试场效感应管的VDS ,通过调节栅极电压VG (Drive)及负载Rc(Range)。无论是N-Channel
    P-Channel,漏极(D)针号设在CH+,源极(S)针号设在CH-,栅极(G)针号设在G1
    VG 调节范围为:-2000mV~5000mVN-FETP-FET)。Rc调节范围为:1200欧)、2100欧)、
    367欧)。
    a).N-FET
                                   

        当VG为正值且越大时,IDS也越大, D极与S极导通越好,VDS相对越小, 这是N-FET的特性。相反地,当VG为负值
        且越小时,
     IDS也越小,D 极与 S极阻抗越大,VDS越接近5V

        若只测试组件是否存在,只将VG调至5V 即可,若还想测试组件是否有短路, 可加多一测试步,将VG 调至0即可。
          b).P-FET 


                                               

       当VG为负值且越小时,IDS也越大,D极与S极导通越好,VDS相对越小,这是P-FET的特性。相反地,当VG为正值
       且越大时,
    IDS也越小,D极与S 极阻 抗越大,VDS越接近5V
       若只测试组件是否存在,只将VG调至-2V即可,若还想测试组件是否有短路,可加多一测试步,将VG调至0V即可。


     



       

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