ICT测试仪开/短路测试程序的调试
生成开/短路测试数据文件后，为稳定及保险起见，请在开/短路自学习完毕后选择Test对本开/短路测试程序进行测试。
测试时机器会先作开路测试（Open Test）,它是在同一链上，针号与针号作开路测试；后作短路测试（Short Test），它是在不同链上针号与针号作短路测试。
例： Chain Node
1 1
2 6 12
25 40
2 3
11 19 32
在链1作开路测试：1-2、1-6 、1-12、1-25、1-40
在链2作开路测试：3-11、3-19、3-32
若链1、链2通过开路测试，则用链头（Chain Head）作短路测试，即：1-3
在开路测试时，针号与针号的电阻若少于开路门槛值（Open Res），则当作短路,此时开路测试Pass；在短路测试时，针号与针号的电阻若大于短路门槛值（Short Res），则当作开路,此时短路测试Pass。
注：开/短路设有两个门槛值，主要原因是形成一个范围，使组件值的差异不致使有不稳定或误判的情况发生。
测试后若程序稳定，则屏幕左下角推出“PASS”，请下压针床压头来回几次及测试几次，以观察其是否稳定，若出现“FAIL”，则作以下处理：
A、 彻底检查显示出的测试针（针号）是否接触不良
B、在保证测试针接触良好的情况下，若出现测试时好时坏，则查清是否受电感线圈的影响，如果是，则跳过显示出的针号，操作方法：确认光标在要跳过的针号项时选择O/S
Edit/Mask，这时针号项会变成红色，表明已跳过这一针号。
注：因电感线圈在瞬间得电时会产生感生电压，可能会影响开/短路的测试，而使得测试程序工作不稳定。若某几个测试针编号常出错，而查实的确为此类问题，则有必要跳过这几个测试针的编号。
被跳过的测试点在开/短路测试时将不考虑该测试点与其它测试点的开/短路关系，但并不影响组件的测试。
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